CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
水平線性又稱時基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏時基線上回波的間隔成正比關系的程度。水平線性影響缺陷位置確定的準確度。水平線性的測試可利用任何表面光滑、厚度適當，并具有兩個相互平行的大平面的試塊，用縱波直探頭獲得多次回波，并將規定次數的兩個回波調整到與兩端的規定刻度線對齊，之后，觀察其他的反射回波位置與
水平刻度線相重合的情況，其測試步驟如下：
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